HP-C-VE測頭是用于CMM系統的光學影像測量系統。2D光感CCD整合發光二極管實現一定視圖區域內的工件測量，同時軟件的光強調整完善了測量區域的照明條件。在每一個視圖區域可以同時選擇一個或多個測量對象（如孔徑，邊界等）。擁有HP-C-VE系統可以同時實現多傳感器組合完成工件測量，并可支持多種測頭更換架，完成影像系統到觸測掃描系統的轉換。
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